In-Situ Measurement Systems
for Vacuum Coating

原位测量系统将镀膜机内不同镀膜步骤的结果相结合,有助于监控镀膜工艺。它们对于质量控制和最大限度地减少调整时间至关重要。

为了实现这一目标,通过测量这些膜层的透射率、反射率、电阻率和其他光学特性来表征和监控这些膜层。

如需了解更多详细信息,请查看宣传手册或直接联系我们。

持续的质量保证和

参数控制

针对各种膜层特性进行工业

验证和协调计量

通过全面和快速的表征获得

高质量的产量

支持
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28.02.2024 - 01.03.2024
H2 & FC EXPO Tokio 2024

Booth: W4/46
Tokyo, Big Sight

12.03.2024 - 13.03.2024
PVCELLTECH Frankfurt 2024

Frankfurt, nn

22.04.2024 - 26.04.2024
H2 FCell Hannovermesse 2024

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China Glass 2024

Booth: Hall N1 / 126
Shanghai, New International Expo Centre

06.05.2024 - 09.05.2026
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Booth: nn
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